


葉經(jīng)理:18917110077
地 址 : 上海市浦東新區(qū)東高路26弄12號(hào)
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儀器采用數(shù)字化技術(shù),讀數(shù)直觀,附加讀數(shù)放大鏡,視場(chǎng)亮度勻稱、像質(zhì)清晰、測(cè)量精度高和數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠,對(duì)小尺寸精密零件的檢測(cè)尤為方便。 被測(cè)件最大長(zhǎng)度:180 mm 直接測(cè)量范圍:10mm 最小顯示值:0.1 μm |
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在不破壞表面的狀況下,以光切法測(cè)量零件表面的微觀不平度、劃痕、刻線或缺陷的深度,適用于計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)、精密零件制造和科研等單位。 ●表面粗糙度測(cè)量范圍:12.5 ~0.2 (光潔度▽3~▽9) ●不平寬度測(cè)量范圍:0.7µm~2.5mm/或0.01µm~13mm. ●不平度測(cè)量范圍:0.8µm~80µm |
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在不破壞表面的狀況下,以光切法測(cè)量零件表面的微觀不平度、劃痕、刻線或缺陷的深度,適用于計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)、精密零件制造和科研等單位。 ●表面粗糙度測(cè)量范圍:12.5 ~0.2 (光潔度▽3~▽9) ●不平寬度測(cè)量范圍:0.7µm~2.5mm/或0.01µm~13mm. ●不平度測(cè)量范圍:0.8µm~80µm |
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